IRD磁芯损耗测试仪2200

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上海兆茗电子科技有限公司优价销售 IRD磁芯损耗测试仪2200

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IRD磁芯损耗测试仪2200

该LEXSECO ?酷睿损耗测试仪利用高分辨率通量提供高度，波形无关的读数，被检查电流和功率测量的核心设备。

核心损耗测试仪包括具有固态控制的可变电抗变压器（VRT），数字计量包，计算机系统和带快速连接配件的测试电缆。提供安全保险丝，过温保护，联锁，浪涌抑制器和断路器，以向硬件和操作员提供大的保护。

磁芯损耗测试仪为某些型号提供0至2,000安培的可调输出电流，对其他型号提供高达4,000安培的可调输出电流。通过LEXSECO使用的VRT ?提供了方便的控制和自我限制的电流，这两者提供比行业中使用动力其它来源的巨大优势。您LEXSECO ?酷睿损耗测试仪的设计与LEXSECO使用? MP 7 TM软件。这种高度精细的软件和硬件组合将确保准确的结果。



标准功能：

所有型号

MP软件和计量系统

助焊剂测量电缆

电缆支架

锁钢盖

型号2125及以上

交流转子和直流电枢测试包。

可选功能：

模型1081，2025，2040，2060

扩展输入电压范围，220-600V

型号2125,2200,3000

扩展输入电压范围480-600V

型号2060及以下

交流转子和直流电枢测试包。

LDV-SYSTEME探头LDV2090C

LDV-SYSTEME触摸屏LDV4090C

LDV-SYSTEME控制板LDV8309C

KEINER转角装置PF-NR2311745

KEINER转角装置PF-1300272

SIKA流量计MD1609LHZDHH117

连接器8.0010.7900.0008

SIKA传感器 VK320M0ROFIN01